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黒田 雅利*; 釜谷 昌幸*; 山田 輝明*; 秋田 貢一
日本機械学会論文集(インターネット), 83(852), p.17-00072_1 - 17-00072_7, 2017/07
これまでに、電子後方散乱回折(EBSD)測定により得られる結晶方位データを解析することで得られる平均局所方位差(Averaged Local Misorientation, Mave)(Kamaya, 2009)とオーステナイト系ステンレス鋼の低サイクル疲労の損傷量との間に相関があることを報告している。ここでは、実用上の観点から、Maveと、市販ソフトウエアで得られるイメージクオリティ(Image Quality: IQ)とを比較することで、IQの疲労損傷評価に対する適用性について検討し、各パラメータの有用性と特徴を明らかにした。また、X線回折(X-Ray Diffraction: XRD)測定も実施し、得られたXRDデータとIQ値分布とを比較することで、疲労損傷の蓄積に伴うIQ値分布の変化はすべり変形によりもたらされたことを示した。
石山 新太郎; 衛藤 基邦
Carbon, 34(8), p.967 - 974, 1996/00
被引用回数：4 パーセンタイル：27.2(Chemistry, Physical)高温ガス炉用微粒等方性黒鉛IG-110の累積疲労損傷を評価するため、応力を高レベルから低レベル、または低レベルから高レベルに変動させた場合の疲労寿命評価を試験的に行った。その結果、両者とも前の応力履歴が2段目の応力履歴に影響を与え、おのおの独立に材料に作用する際の寿命より短い値が得られた。実験結果からこの疲労相互作用を考慮することにより、段階的に応力が変化する場合の疲労寿命の推定の行える評価式を提案した。
石川 昌幸*; 笠原 直人
PNC TN9520 93-003, 57 Pages, 1993/03
高速炉特有の熱荷重である熱応力を主体とした構造物強度データを蓄積し、高速炉用構造設計基準の基礎となる強度評価法(クリープ疲労損傷等)開発を支援するために、構造物強度データベースシステム"STAR"を開発した。 本報告書は、構造物強度データベースシステム"STAR"において、損傷値とき裂長さ等の比較に使用するき裂データ、形状データに関する入力システムの取扱説明書である。 以下に主な機能を示す。 (1)デジタイザによる供試体形状データ(R部、溶接部位等)のオンライン入力 (2)デジタイザによるき裂位置、深さの正確な入力 (3)き裂データの属性(破面状態、母材、溶金等)も容易に入力 上記の機能により、構造物強度データベースシステム"STAR"で重要なき裂データ等が正確かつ容易に入力が出来、作業の効率が図られた。
石山 新太郎; 衛藤 基邦
炭素, 0(152), p.79 - 83, 1992/00
微粒等方性黒鉛IG-110の高-低応力型2段-重疲労試験を行い、累積疲労損傷則や累積疲労損傷に与える圧縮応力レベルの影響について検討した結果、下記の結論が得られた。(1)累積疲労損傷は、負荷応力レベルや初段サイクル比の増加に伴って減少する。(2)初期サイクル比が0.3以上の場合の累積疲労損傷は、線形累積疲労損傷則で評価できる。(3)応力比が-1.0の場合の疲労試験では圧縮応力レベルの増加に伴って累積疲労損傷が低減する。
石山 新太郎; 衛藤 基邦; 奥 達雄*
材料, 40(457), p.1336 - 1340, 1991/10
微粒等方性黒鉛IG-110を用いて平均引張り強度0.85倍以上の高応力レベルでの保持応力下の静的疲労試験ならびにノコギリ波や台形波の繰返し疲労試験を行った結果、次の結論が得られた。(1)平均強度の0.95以上の高応力レベルで静的疲労破壊現象が観察された。(2)平均強度の0.85倍以上で台形波の繰返し疲労寿命はノコギリ波のそれより短くなった。(3)台形波の保持時間に逆比例して寿命が短くなった。(4)累積疲労損傷係数は台形波の場合すべての疲労試験条件で1より小さい値をとった。
石山 新太郎; 奥 達雄; 衛藤 基邦
日本原子力学会誌, 29(12), p.1127 - 1133, 1987/12
被引用回数：1 パーセンタイル：19.33(Nuclear Science & Technology)微粒等方性黒鉛IG-110の1段1重、2段1重及び3段1重のHigh
Low Stress及びLowHigh Stress型の疲労試験を行いそれぞれの場合の材料に与える疲労損傷程度を評価してみた。その結果1)HighLow Stress型での疲労はLow-High型より黒鉛材料に与える損傷程度は大きかった。2)Miner則やHashin則では疲労損傷程度をH-L型で過小評価し、L-H型では過大評価を与える。これに対して次式による評価は実験データと良い一致を示した。(n1/N1)
+n2/N2=1 (2段1重) ((n1/N1)+n2/N2)(
+n3/N3=1 (3段1重)
黒田 雅利*; 釜谷 昌幸*; 秋田 貢一; 山田 輝明*; 島崎 智憲*; 谷川 良平*
no journal, ,
疲労負荷を与えたオーステナイトステンレス鋼のサンプルに対して電子後方散乱回折(Electron Backscatter Diffraction: EBSD)測定を実施し、疲労の進行に伴うIQ(Image quality)値の分布と結晶方位差の分布の変化を比較することで、パターンクオリティの疲労損傷検出に対する適用性について検討した。また、そのEBSD測定で用いたものと同一の疲労負荷を与えたサンプルに対してX線回折測定を実施し、得られたX線回折データと既述のIQ値の分布とを比較することで、疲労によりもたらされるパターンクオリティの変化が、どのような結晶学的な変化によりもたらされるかについて考察した。
